数据采集别再踩坑！CBM76AD06高集成同步采样DAS的价值解析

在工业4.0深化、新能源电力系统规模化建设及高端装备制造升级背景下，数据采集（DAS）作为工业控制“神经末梢”，其采样同步性、精度稳定性、环境适应性及设计便捷性成为效率瓶颈。当前工业场景中，多通道采样不同步导致数据分析偏差、外部器件依赖增加设计复杂度、恶劣环境下可靠性不足、接口兼容性差推高适配成本、高功耗难满足嵌入式需求等痛点突出。为此，芯佰微电子推出CBM

高精度ADC——ADS1146电路设计及RT-Thread程序开发 | 技术集结

ADS1146器件是高精度16位模数转换器（ADC），集成了众多功能，可降低传感器测量应用中的系统成本和组件数量。这些器件具有低噪声、可编程增益放大器（PGA）、高精度的(ΔΣ)ADC以及单周期稳定数字滤波器和内部振荡器。本文将介绍对ADS1146的外部电路设计和利用RT-Thread实现去ADS1146的电路驱动。电路设计首先利用电压基准芯片生成稳定的1.

RusT-Thread：基于Rust面向资源受限嵌入式设备的操作系统的实践 | 技术集结

摘要随着物联网和嵌入式系统的发展，实时操作系统（RTOS）的安全性和性能需求日益提高。传统基于C语言的RTOS在内存安全和并发控制方面存在局限，容易导致缓冲区溢出、数据竞争等问题。本项目以RT-Thread为基础，使用Rust语言重构其内核，形成了全新的RusT-Thread系统。系统采用模块化架构，涵盖内核服务、进程调度、内存管理、线程通信与时钟控制等核心

面向老化测试系统的高压继电器有哪些要求？

老化与寿命测试系统是半导体和电子产品可靠性测试中的关键工具。被测器件（DUT）如存储芯片（DRAM、闪存）、处理器（CPU、GPU）、分立功率半导体（MOSFET、IGBT）以及宽禁带器件（碳化硅和氮化镓模块）会在高温高压等加速应力条件下持续工作，以提前暴露早期失效并验证其长期性能。开关元件是这类系统的核心部件之一，负责连接、隔离或向每个被测器件路由信号与电

【案例集锦】功率放大器在无损检测领域研究中的应用

关于无损检测无损检测（NDT）作为现代工业质量管控与安全保障的核心技术，以“不损伤被测对象”为核心优势，贯穿于产品设计、生产制造、服役运维全生命周期。从航空航天的关键构件、能源领域的承压设备，到轨道交通的核心部件，无损检测无需拆解或破坏工件，就能精准识别内部缺陷、材质不均、性能衰减等潜在问题，既避免了传统检测对产品的损耗，又能提前排查安全隐患，降低运维成本与

TI AM62x开发板的常见接口问题及排查思路（第2期）

AM62x处理器作为TI新一代高性能、低功耗处理器，在工业控制、人机交互、边缘计算等领域有着广泛应用。此前，小编整理过大家在OK62xx-C开发板的开发过程中常见的部分问题，得到了很多朋友的关注。本篇文章将继续针对开发过程中可能遇到的各类接口问题，为大家提供系统化的排查思路和解决方案。

【EASY EAI】基于瑞芯微RV1126B 的串口调试说明

串口调试接线说明EASYEAINano-TB支持调试串口调试，相关硬件接口如下图所示。串口被Windows正确识别后，通过设备管理器会查询到具体的串口号（如COM7），如下所示。putty使用下面以putty来演示如何打开调试串口COM7。配置左侧的“serial”，波特率是1.5Mbps，如下图所示。配置左侧的“Session”，选择“Serial”并点击

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老化与寿命测试系统是半导体和电子产品可靠性测试中的关键工具。被测器件（DUT）如存储芯片（DRAM、闪存）、处理器（CPU、GPU）、分立功率半导体（MOSFET、IGBT）以及宽禁带器件（碳化硅和氮化镓模块）会在高温高压等加速应力条件下持续工作，以提前暴露早期失效并验证其长期性能。开关元件是这类系统的核心部件之一，负责连接、隔离或向每个被测器件路由信号与电

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老化与寿命测试系统是半导体和电子产品可靠性测试中的关键工具。被测器件（DUT）如存储芯片（DRAM、闪存）、处理器（CPU、GPU）、分立功率半导体（MOSFET、IGBT）以及宽禁带器件（碳化硅和氮化镓模块）会在高温高压等加速应力条件下持续工作，以提前暴露早期失效并验证其长期性能。开关元件是这类系统的核心部件之一，负责连接、隔离或向每个被测器件路由信号与电

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RusT-Thread：基于Rust面向资源受限嵌入式设备的操作系统的实践 | 技术集结

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